镜头分辨率测试卡TE253 9X设计用于测试镜头分辨率。测试卡包含径向正弦调制的西门子星，倾斜边缘和白色噪声斑块。在西门子星的中心是一个调焦标记。在测试卡的边界处，存在16个灰色块，用于自校准。角落显示一个更大的黑色正方形和一个小白色正方形。西门子星形有144和72个周期。
镜头分辨率测试卡TE253 A 9x的最大分辨率取决于图表的大小和中心的直径
| 型号 | 尺寸 | 周期数 | 中心标记直径 | 最小分辨率 | 最大分辨率 |
| TE253-L | A1066 | 72 | 12 mm | VGA | 2 MP |
| TE253-S | A1066 | 144 | 12 mm | 2 MP | 30 MP |
| TE253-H | A1066 | 144 | 5 mm | 8 MP | 180 MP |
| TE253-A460-L | A460 | 72 | 5 mm | VGA | 2 MP |
| TE253-A460-H | A460 | 144 | 5 mm | 2 MP | 35 MP |
| A1066 (反射式) | H - 144 周期和5mm标记用于8百万到1亿8千万像素之间的摄像头 |
| S - 144 周期和12mm标记用于2百万到三千万像素之间的摄像头 | |
| L - 72周期和12mm标记 用于VGA和2百万像素采样率之间的摄像头 | |
| A460 (反射式) | H - 144 周期和5mm标记用于2百万到3千5百万像素之间的摄像头 |
| L - 72周期和12mm标记 用于VGA和2百万像素采样率之间的摄像头 | |
| D35 (透射式) | 144周期 用于2百万到一千万像素之间的摄像头 |
