测试卡百科

分辨率测试卡结构

来源:赛麦吉   时间:2016-08-24   热度:

吸收体材料

分辨率测试卡的射线吸收体材料用铅箔或者与铅当量相当的金属箔。

铅质栅条与线对

在一定宽度内,均匀地排列着若干条宽度相等、长度为20mm、厚度为0.05~0.1mm的铅箔栅条,栅条的间距等于栅条的宽度。一条栅条和与它相邻的一个间距构成一个线对,线对用LP表示。铅箔栅条采用激光技术(或其它技术)刻制而成。

分辨率测试卡的构成

分辨率—线对原理图

在一定宽度内,均匀地排列着若干组线对组,相邻两组的距离为3mm;若干组线对数按一定则(等比数列或等差数列)顺序排列,各组线对的栅条紧夹在两块厚度为1mm的有机玻璃板之间,如下图所示。线对组成及图形分布结构按标准的规定。

平行式分辨率测试卡的结构1
平行式分辨率测试卡的结构

分辨率测试卡的测试原理

将分辨率测试卡紧贴在工件上(或胶片暗袋或)离射线源较近一侧的表面上,按照一定的工艺条件进行透照,经暗室处理后在底片上能够观察到几组黑白相间的栅条影象,其中观察到栅条刚好分离的一组线对,则该组线对所对应的线对数即为底片(或照相系统)的分辩率。

将分辨率测试卡紧贴在工件上离射线源较近一侧的表面上(或图象增强器输入屏表面中心区域),按照一定的工艺条件进行透照,在显示器上能够观察到几组黑白相间的栅条影象,其中观察到栅条刚好分离的一组线对,则该组线对所对应的线对数即为图像(或成像系统)的分辩率。

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